低分子化合物の単結晶Ｘ線構造解析

JKA 補助事業 基礎技術実習 第1回

低分子化合物の単結晶Ｘ線構造解析 

～ 結晶のサンプリングから回折測定、構造表示ソフトによる解析まで ～

※本セミナ―は、公益財団法人JKAの人材育成等補助事業により実施します。

　単結晶X線構造解析は、結晶中での化合物の立体構造を可視化できる、きわめて強力な分析法です。化合物の同定のみならず、結晶内での分子のコンフォメーションや分子間相互作用、結晶溶媒の構造や位置など、得られる情報が多いため、新規化合物が得られた際にはぜひ試してもらいたい分析法です。一方で、分析操作が煩雑なこと、必要な知識が多いこと、また実験上の多くのノウハウが必要なことなど、習得しづらい分析法というイメージもあると思います。しかし最近、PCの性能向上や優れたソフトウェアの登場などにより、構造解析やデータ解析が格段に身近になりました。また、X線回折装置や測定用の周辺ツールなども着実に進歩しており、汎用性が高くなってきました。
　本研修では、初心者にもおおまかな全体像をつかんでいただけるよう、結晶の選別からサンプリング、回折測定、構造解析、構造表示ソフトウェアの使い方までの一連の流れについての講習および実習を行います。またとない機会ですので、ぜひご参加ください。未経験者も歓迎します。
※この研修は、競輪の補助を受けています。

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プログラム

1. 結晶構造解析の概要についての講習　　

　(9:30～10:30)

2. 結晶のサンプリング実習

　(10:30～11:30)

3. 単結晶X線回折装置による測定

　(11:30～12:00、13:00～14:00)

4. プログラムを用いた構造解析

　(14:00～15:30)

5. 構造表示ソフトウェアによるデータ解析

　(15:30～17:00)

（地独）大阪産業技術研究所　電子材料研究部　主幹研究員　柏木行康

主任研究員　中村優志

有機材料研究部　研究員　中尾秀一

＜研究所に来所される方へのお願い＞

　※発熱等の症状がある方は入館をご遠慮下さい。

▶申込みは こ ち ら
※重複での申し込みは不可です。